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東莞市諾展電子儀器有限公司
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回收安捷倫N4373C光波元器件分析儀
N4373C 40/50/67 GHz 光波元器件分析儀
主要特性與技術指標
絕對頻率響應精度
50 GHz 時，± 1.2 dB（典型值）
65 GHz 時，± 1.8 dB（典型值）
相對頻率響應精度
50 GHz 時，± 0.8 dB（典型值）
65 GHz 時，± 1.3 dB（典型值）
本底噪聲
50（65）GHz 時，O/E 測量的本底噪聲為 -60（55）dB（A/W）
50（65）GHz 時，E/O 測量的本底噪聲為 -64（59）dB（W/A）
描述
光波元器件分析儀軟件版本 2.3
憑借高達 67 GHz 的調制頻率范圍和出色的精度，N4373C 可根據 IEEE 802.3ba 標準對傳輸系統的電光器件執行 S 參數測試，并且支持光載無線通信（RoF）以及在 60 GHz 頻率范圍內的航空航天與國防（A&D）應用。
通過使用 N4373C 測試電光器件的 S 參數，可實現最快的上市速度，并使您集中精力開發高性能元器件。
通過使用快速、簡單的測量設置，可自動執行耗時的電子校準步驟，并且使操作人員無需進行光校準，從而顯著提高效率。
額外優勢：
高達 67 GHz 的平衡測量能力（最薪）
利用外部光源輸入在 1300 ～ 1600 nm 的全部波長范圍內進行測試
1310 和 1550 nm 可選擇的內部發射機，支持 IEEE 802.3ba 元器件測試
內置平均功率計可快速進行發射機功率測試
用戶可選擇的光發射機輸出功率幫助您適應目標測試條件
測試速度比 86030A 快 10 倍以上，可提高生產率
關鍵特性
高絕對精度和相對精度測量提高了開發和生產過程的產量。以優異
精度和可重復性，測量結果可以在世界各地的測試位置進行比較。
可追蹤的平衡測量高達50 GHz
高可靠性和快速上市的NIST可追溯的交鑰匙解決方案
使用具有獨特新校準過程的快速和容易的測量裝置顯著提高生產率導致更低
測試成本
用戶選擇波長測試的外部光源輸入選項
跨N437 XB/C LCA系列的通用PNA和LCA用戶接口
相同的LCA軟件和跨N437 XB/C家族的遠程控制簡化了集成
相對頻率響應不確定度
±0.8 dB @ 50 GHz（典型）
±1.3 dB @ 65 GHz（典型）
頻率響應不確定度
±1.2 dB @ 50 GHz（典型）
±1.8 dB @ 65 GHz（典型）
噪聲地板
- 60（55）dB（A/W）用于O/E測量@ 50（65）GHz
- 64（59）dB（W/A）用于E/O測量@ 50（65）GHz
典型相位不確定度±2.3°
發射機波長
1550 nm±20 nm
1310 nm±20 nm
1290至1610納米的外部源輸入
內置光功率計
用于快速功率驗證
回收安捷倫N4373C光波元器件分析儀
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